Cargando…

Mechanical stress on the nanoscale : simulation, material systems and characterization techniques /

A comprehensive overview of the current level of stress engineering on the nanoscale combining the theoretical fundamentals with simulation methods, model systems and characterization techniques.

Detalles Bibliográficos
Clasificación:Libro Electrónico
Otros Autores: Hanbücken, Margrit, Muller, Pierre, 1950-, Wehrspohn, Ralf B.
Formato: Electrónico eBook
Idioma:Inglés
Publicado: Weinheim : Wiley-VCH, 2011.
Temas:
Acceso en línea:Texto completo

MARC

LEADER 00000cam a2200000Ma 4500
001 EBOOKCENTRAL_ocn771282798
003 OCoLC
005 20240329122006.0
006 m o d
007 cr |n|||||||||
008 110819s2011 gw fob 001 0 eng d
010 |a  2012554564 
040 |a CDX  |b eng  |e pn  |c CDX  |d OCLCQ  |d YDXCP  |d E7B  |d MBB  |d OCLCO  |d DEBSZ  |d OCLCQ  |d DG1  |d N$T  |d EBLCP  |d COO  |d OCLCF  |d IDEBK  |d DEBBG  |d OCLCQ  |d OCL  |d OCLCQ  |d AZK  |d LOA  |d COCUF  |d DG1  |d MOR  |d LIP  |d PIFAG  |d ZCU  |d OCLCQ  |d MERUC  |d OCLCQ  |d U3W  |d OCLCQ  |d STF  |d WRM  |d ICG  |d INT  |d VT2  |d OCLCQ  |d WYU  |d OCLCQ  |d DKC  |d OCLCQ  |d UKAHL  |d OL$  |d OCLCQ  |d UKCRE  |d UKMGB  |d OCLCO  |d OCLCQ  |d OCLCO  |d OCLCL 
015 |a GBC073783  |2 bnb 
016 7 |a 019807803  |2 Uk 
019 |a 773301844  |a 778459392  |a 778618921  |a 816879809  |a 961536094  |a 962593953  |a 966214996  |a 988442345  |a 992062454  |a 1037710429  |a 1038655530  |a 1038675177  |a 1049741308  |a 1055369672  |a 1065942761  |a 1081278673  |a 1086945510  |a 1153507712  |a 1228580493  |a 1244444811  |a 1249222588 
020 |a 9783527410668  |q (Cloth) 
020 |a 352741066X  |q (Cloth) 
020 |a 9783527639564 
020 |a 352763956X 
020 |a 9783527639540  |q (electronic bk.) 
020 |a 3527639543  |q (electronic bk.) 
020 |a 3527639551  |q (ePub) 
020 |a 9783527639557  |q (ePub) 
020 |a 9781283379496  |q (MyiLibrary) 
020 |a 128337949X  |q (MyiLibrary) 
024 8 |a 9786613379498 
029 1 |a AU@  |b 000053024013 
029 1 |a AU@  |b 000055785978 
029 1 |a CHNEW  |b 000938831 
029 1 |a CHVBK  |b 480191158 
029 1 |a DEBBG  |b BV041906906 
029 1 |a DEBBG  |b BV043393929 
029 1 |a DEBBG  |b BV044160402 
029 1 |a DEBSZ  |b 37270929X 
029 1 |a DEBSZ  |b 431077037 
029 1 |a DEBSZ  |b 48501159X 
029 1 |a NZ1  |b 14214535 
029 1 |a NZ1  |b 15340703 
029 1 |a UKMGB  |b 019807803 
029 1 |a AU@  |b 000072980688 
035 |a (OCoLC)771282798  |z (OCoLC)773301844  |z (OCoLC)778459392  |z (OCoLC)778618921  |z (OCoLC)816879809  |z (OCoLC)961536094  |z (OCoLC)962593953  |z (OCoLC)966214996  |z (OCoLC)988442345  |z (OCoLC)992062454  |z (OCoLC)1037710429  |z (OCoLC)1038655530  |z (OCoLC)1038675177  |z (OCoLC)1049741308  |z (OCoLC)1055369672  |z (OCoLC)1065942761  |z (OCoLC)1081278673  |z (OCoLC)1086945510  |z (OCoLC)1153507712  |z (OCoLC)1228580493  |z (OCoLC)1244444811  |z (OCoLC)1249222588 
037 |a 337949  |b MIL 
050 4 |a QC611.6.D4 
072 7 |a TEC  |x 021000  |2 bisacsh 
082 0 4 |a 621.3/8152  |2 23 
049 |a UAMI 
245 0 0 |a Mechanical stress on the nanoscale :  |b simulation, material systems and characterization techniques /  |c edited by Margrit Hanbücken, Pierre Muller, Ralf B. Wehrspohn. 
260 |a Weinheim :  |b Wiley-VCH,  |c 2011. 
300 |a 1 online resource (380 pages) 
336 |a text  |b txt  |2 rdacontent 
337 |a computer  |b c  |2 rdamedia 
338 |a online resource  |b cr  |2 rdacarrier 
347 |a data file  |2 rda 
588 0 |a Print version record. 
505 0 |a pt. 1. Fundamentals of stress and strain on the nanoscale -- pt. 2. Model systems with stress-engineered properties -- pt. 3. Characterization techniques of measuring stresses on the nanoscale. 
504 |a Includes bibliographical references and index. 
520 |a A comprehensive overview of the current level of stress engineering on the nanoscale combining the theoretical fundamentals with simulation methods, model systems and characterization techniques. 
590 |a ProQuest Ebook Central  |b Ebook Central Academic Complete 
650 0 |a Semiconductors  |x Defects. 
650 0 |a Semiconductors  |x Reliability. 
650 6 |a Semi-conducteurs  |x Défauts. 
650 6 |a Semi-conducteurs  |x Fiabilité. 
650 7 |a TECHNOLOGY & ENGINEERING  |x Material Science.  |2 bisacsh 
650 7 |a Semiconductors  |x Defects  |2 fast 
650 7 |a Semiconductors  |x Reliability  |2 fast 
700 1 |a Hanbücken, Margrit. 
700 1 |a Muller, Pierre,  |d 1950-  |1 https://id.oclc.org/worldcat/entity/E39PBJvxrDMRfbYd6vtdVpYHG3 
700 1 |a Wehrspohn, Ralf B. 
758 |i has work:  |a Mechanical stress on the nanoscale (Text)  |1 https://id.oclc.org/worldcat/entity/E39PCFYMDxMr7rb9kmJJGg8Hmd  |4 https://id.oclc.org/worldcat/ontology/hasWork 
776 0 8 |i Print version:  |z 9786613379498 
856 4 0 |u https://ebookcentral.uam.elogim.com/lib/uam-ebooks/detail.action?docID=827027  |z Texto completo 
938 |a Askews and Holts Library Services  |b ASKH  |n AH21643944 
938 |a Askews and Holts Library Services  |b ASKH  |n AH21643945 
938 |a Coutts Information Services  |b COUT  |n 20455206  |c 100.00 GBP 
938 |a EBL - Ebook Library  |b EBLB  |n EBL4044228 
938 |a EBL - Ebook Library  |b EBLB  |n EBL827027 
938 |a ebrary  |b EBRY  |n ebr10521342 
938 |a EBSCOhost  |b EBSC  |n 413762 
938 |a ProQuest MyiLibrary Digital eBook Collection  |b IDEB  |n 337949 
938 |a YBP Library Services  |b YANK  |n 7484180 
938 |a YBP Library Services  |b YANK  |n 7312223 
938 |a YBP Library Services  |b YANK  |n 12679366 
994 |a 92  |b IZTAP