Two-dimensional x-ray diffraction /

Detalles Bibliográficos
Clasificación:Libro Electrónico
Autor principal: He, Bob B., 1954- (Autor)
Formato: Electrónico eBook
Idioma:Inglés
Publicado: Hoboken, N.J. : Wiley, [2009]
Temas:
X-rays > Diffraction.
X-rays > Diffraction > Experiments.
X-rays > Diffraction > Industrial applications.
X-Ray Diffraction
Rayons X > Diffraction.
Rayons X > Diffraction > Expériences.
Rayons X > Diffraction > Applications industrielles.
x-ray diffraction.
SCIENCE > Physics > Electromagnetism.
SCIENCE > Radiation.
X-rays > Diffraction
X-rays > Diffraction > Experiments
X-rays > Diffraction > Industrial applications
Acceso en línea:Texto completo

MARC

LEADER 00000cam a2200000 a 4500
001 EBOOKCENTRAL_ocn476311757
003 OCoLC
005 20240329122006.0
006 m o d
007 cr cn|||||||||
008 091209t20092009njua ob 001 0 eng d
040 |a DG1  |b eng  |e pn  |c DG1  |d CDX  |d N$T  |d YDXCP  |d OSU  |d EBLCP  |d IDEBK  |d CEF  |d E7B  |d LGG  |d DG1  |d OCLCQ  |d MERUC  |d MHW  |d OCLCQ  |d FVL  |d B24X7  |d OCLCQ  |d DEBSZ  |d OCLCQ  |d AU@  |d UKDOC  |d COO  |d OCLCF  |d OCLCQ  |d DEBBG  |d AZK  |d IAS  |d OCLCQ  |d CUS  |d DG1  |d OCLCQ  |d MOR  |d LIP  |d PIFAG  |d ZCU  |d OCLCQ  |d GZM  |d U3W  |d BUF  |d OCLCQ  |d STF  |d WRM  |d COCUF  |d NRAMU  |d ICG  |d INT  |d VT2  |d OCLCQ  |d WYU  |d OCLCQ  |d DKC  |d OCLCQ  |d S9I  |d OCLCQ  |d UKCRE  |d VLY  |d OCLCQ  |d EYM  |d OCLCO  |d UKAHL  |d OCLCO  |d OCLCQ  |d OCLCO  |d OCLCL 
019 |a 502012582  |a 559014545  |a 646853426  |a 652389252  |a 719420057  |a 741346259  |a 743436883  |a 748591096  |a 781256408  |a 961572771  |a 962557937  |a 988457009  |a 991994860  |a 1037930035  |a 1038677469  |a 1045496136  |a 1055403499  |a 1064133739  |a 1081286853  |a 1153543789  |a 1162210231  |a 1228565855  |a 1290110200 
020 |a 9780470502648  |q (electronic bk.) 
020 |a 0470502649  |q (electronic bk.) 
020 |a 9780470502624  |q (electronic bk.) 
020 |a 0470502622  |q (electronic bk.) 
020 |a 1118210751 
020 |a 9781118210758 
020 |a 1282345699 
020 |a 9781282345690 
020 |a 9786612345692 
020 |a 6612345691 
020 |z 9780470227220  |q (cloth) 
020 |z 0470227222  |q (cloth) 
024 7 |a 10.1002/9780470502648  |2 doi 
024 8 |a 9786612345692 
029 1 |a AU@  |b 000048784051 
029 1 |a AU@  |b 000053263693 
029 1 |a CDX  |b 11287812 
029 1 |a CHNEW  |b 000934430 
029 1 |a CHVBK  |b 480147744 
029 1 |a DEBBG  |b BV043390432 
029 1 |a DEBBG  |b BV044139932 
029 1 |a DEBSZ  |b 372818501 
029 1 |a DEBSZ  |b 430787375 
029 1 |a HEBIS  |b 276104919 
029 1 |a NZ1  |b 14242267 
035 |a (OCoLC)476311757  |z (OCoLC)502012582  |z (OCoLC)559014545  |z (OCoLC)646853426  |z (OCoLC)652389252  |z (OCoLC)719420057  |z (OCoLC)741346259  |z (OCoLC)743436883  |z (OCoLC)748591096  |z (OCoLC)781256408  |z (OCoLC)961572771  |z (OCoLC)962557937  |z (OCoLC)988457009  |z (OCoLC)991994860  |z (OCoLC)1037930035  |z (OCoLC)1038677469  |z (OCoLC)1045496136  |z (OCoLC)1055403499  |z (OCoLC)1064133739  |z (OCoLC)1081286853  |z (OCoLC)1153543789  |z (OCoLC)1162210231  |z (OCoLC)1228565855  |z (OCoLC)1290110200 
050 4 |a QC482.D5  |b H4 2009 
072 7 |a SCI  |x 022000  |2 bisacsh 
072 7 |a SCI  |x 058000  |2 bisacsh 
082 0 4 |a 548/.83  |2 22 
082 0 4 |a 539.2  |2 22 
049 |a UAMI 
100 1 |a He, Bob B.,  |d 1954-  |e author.  |1 https://id.oclc.org/worldcat/entity/E39PCjBypRd7qwTVGfxCvyffxC 
245 1 0 |a Two-dimensional x-ray diffraction /  |c Bob B. He. 
264 1 |a Hoboken, N.J. :  |b Wiley,  |c [2009] 
264 4 |c ©2009 
300 |a 1 online resource (xiv, 426 pages) :  |b illustrations 
336 |a text  |b txt  |2 rdacontent 
337 |a computer  |b c  |2 rdamedia 
338 |a online resource  |b cr  |2 rdacarrier 
504 |a Includes bibliographical references and index. 
505 0 |a TWO-DIMENSIONAL X-RAY DIFFRACTION; CONTENTS; Preface; 1. Introduction; 2. Geometry Conventions; 3. X-Ray Source and Optics; 4. X-Ray Detectors; 5. Goniometer and Sample Stages; 6. Data Treatment; 7. Phase Identification; 8. Texture Analysis; 9. Stress Measurement; 10. Small-Angle X-Ray Scattering; 11. Combinatorial Screening; 12. Quantitative Analysis; 13. Innovation and Future Development; Appendix A. Values of Commonly Used Parameters; Appendix B. Symbols; Index. 
588 0 |a Print version record. 
546 |a English. 
590 |a ProQuest Ebook Central  |b Ebook Central Academic Complete 
650 0 |a X-rays  |x Diffraction. 
650 0 |a X-rays  |x Diffraction  |x Experiments. 
650 0 |a X-rays  |x Diffraction  |x Industrial applications. 
650 2 |a X-Ray Diffraction 
650 6 |a Rayons X  |x Diffraction. 
650 6 |a Rayons X  |x Diffraction  |x Expériences. 
650 6 |a Rayons X  |x Diffraction  |x Applications industrielles. 
650 7 |a x-ray diffraction.  |2 aat 
650 7 |a SCIENCE  |x Physics  |x Electromagnetism.  |2 bisacsh 
650 7 |a SCIENCE  |x Radiation.  |2 bisacsh 
650 7 |a X-rays  |x Diffraction  |2 fast 
650 7 |a X-rays  |x Diffraction  |x Experiments  |2 fast 
650 7 |a X-rays  |x Diffraction  |x Industrial applications  |2 fast 
758 |i has work:  |a Two-dimensional x-ray diffraction (Text)  |1 https://id.oclc.org/worldcat/entity/E39PCGt9vfjFQ9qvGKMXtf6vVC  |4 https://id.oclc.org/worldcat/ontology/hasWork 
776 0 8 |i Print version:  |a He, Bob B., 1954-  |t Two-dimensional x-ray diffraction.  |d Hoboken, N.J. : Wiley, ©2009  |z 9780470227220  |w (DLC) 2009005619  |w (OCoLC)303927987 
856 4 0 |u https://ebookcentral.uam.elogim.com/lib/uam-ebooks/detail.action?docID=469502  |z Texto completo 
938 |a 123Library  |b 123L  |n 12680 
938 |a Askews and Holts Library Services  |b ASKH  |n AH21628456 
938 |a Books 24x7  |b B247  |n bke00033634 
938 |a Coutts Information Services  |b COUT  |n 11287812 
938 |a EBSCOhost  |b EBSC  |n 301772 
938 |a YBP Library Services  |b YANK  |n 3131595 
938 |a YBP Library Services  |b YANK  |n 3133837 
938 |a YBP Library Services  |b YANK  |n 12671068 
994 |a 92  |b IZTAP 

Ejemplares similares