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Scanning Probe Microscopy Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy /

This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope. The chapters on the scanning probe techniqu...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Clasificación:Libro Electrónico
Autor principal: Voigtländer, Bert (Autor)
Autor Corporativo: SpringerLink (Online service)
Formato: Electrónico eBook
Idioma:Inglés
Publicado: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg : Imprint: Springer, 2015.
Edición:1st ed. 2015.
Colección:NanoScience and Technology,
Temas:
Acceso en línea:Texto Completo

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