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Helium Ion Microscopy Principles and Applications /

Helium Ion Microscopy: Principles and Applications describes the theory and discusses the practical details of why scanning microscopes using beams of light ions - such as the Helium Ion Microscope (HIM) - are destined to become the imaging tools of choice for the 21st century. Topics covered includ...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Clasificación:Libro Electrónico
Autor principal: Joy, David C. (Autor)
Autor Corporativo: SpringerLink (Online service)
Formato: Electrónico eBook
Idioma:Inglés
Publicado: New York, NY : Springer New York : Imprint: Springer, 2013.
Edición:1st ed. 2013.
Colección:SpringerBriefs in Materials,
Temas:
Acceso en línea:Texto Completo

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