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Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design

Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design brings together some of the world's leading experts in statistical EDA, memory design, device variability modeling and reliability modeling, to compile theoretical and practical results in one complete reference on statistical techniques for extreme...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Clasificación:Libro Electrónico
Autor Corporativo: SpringerLink (Online service)
Otros Autores: Singhee, Amith (Editor ), Rutenbar, Rob A. (Editor )
Formato: Electrónico eBook
Idioma:Inglés
Publicado: New York, NY : Springer US : Imprint: Springer, 2010.
Edición:1st ed. 2010.
Colección:Integrated Circuits and Systems,
Temas:
Acceso en línea:Texto Completo