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Interfacial Compatibility in Microelectronics Moving Away from the Trial and Error Approach /
por
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,
Vuorinen, Vesa
,
Paulasto-Kröckel, Mervi
,
Turunen, Markus
,
Mattila, Toni
T.
,
Kivilahti, Jorma
Publicado 2012
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Ubicación:
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